芯片三輪測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-01-11
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：2617

簡(jiǎn)要描述：芯片三輪測(cè)試儀三輪測(cè)試儀適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試

品牌	HY/恒馭

　　一、芯片三輪測(cè)試儀介紹：

　　UHIC三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試。

　　二、主要技術(shù)參數(shù)：

　　1、三輪測(cè)試儀型號(hào)：UHICC

　　2、測(cè)試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次

　　3、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd

　　4、CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22

　　5、測(cè)試方法參考: 10.3.22

　　6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

　　7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.

　　8、測(cè)試廠(chǎng)家：

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